Статьи и публикации
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Результаты исследований, разработки и запуска систем автоматизированной оптической инспекции изделий электронной техники
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №3/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 19. Применение метода магнитной индукции для автоматизированной инспекции качества покрытий изделий электронной техники
// Электронные компоненты, №9/2026
Юрий Рубцов, Юрий Евстифеев, Владимир Верченов
Квазистатические и полноволновые подходы получения RLC-параметров в разработке корпусов для микросхем. Часть 2. Современные тенденциив моделировании параметровкорпусов микросхем
//СВЧ-электроника №2/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 18. Организационная система автоматизированной инспекции качества покрытий изделий электронной техники золотом и никелем методом рентгенофлуоресцентного анализа
//Электронные компоненты, №8/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Савелий Кондауров, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 17. Программное обеспечение для устранения смещений позиционирования ИЭТ на производствах конвейерного типа с оптической инспекцией качества изделий
//Электронные компоненты, №7/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 16. Алгоритм обнаружения дефектов на печатных платах
//Электронные компоненты, №6/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 15. Автоматизация оптической инспекции печатных плат
//Электронные компоненты, №5/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Вячеслав Малышев, Юрий Рубцов
Визуальный поиск дефектов после герметизации микросхем в пластиковый корпус.
//Технологии в электронной промышленности, № 2’2026
Илья Бойков, Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Формирование графического руководства оператора на этапе внедрения АПАК.
//Технологии в электронной промышленности, № 3’2026
Юрий Рубцов
Оценка архитектуры баз данных в системе формирования предложений на выбор изделиях электронной техники для применения в радиоэлектронной аппаратуре. Cборник статей III Международного научно-исследовательского конкурса.
Под общ. ред. Г.Ю. Гуляева – Пенза: МЦНС «Наука и Просвещение». – 2026 г.
Юрий Рубцов, Юрий Евстифеев, Владимир Верченов
Квазистатические и полноволновые подходы получения RLC-параметров в разработке корпусов для микросхем. Часть 1. Современные тенденции в моделирование параметров корпусов микросхем.
//СВЧ-электроника №1/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Константин Иванов, Юрий Рубцов
Алгоритмы контрастного автофокуса для поиска дефектов в АПАК.
//Технологии в электронной промышленности, № 2’2026
Юрий Рубцов, Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Владимир Верченов, Даниил Романов
Применение глазковых диаграмм при разработке изделий электронной техники.
//Технологии в электронной промышленности, № 2’2026
Дарья Дормидошина
Искусственный интеллект: от научной фантастики к реальности.
//Роль искусственного интеллекта и нейронных сетей в развитии современных технологий. Философские, правовые и языковые аспекты: Глава 1. Монографии, 23 марта 2026 г.
Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов и алгоритмов сбора информации об изделиях электронной компонентной базы.
//Современная наука, общество и технологии: Глава 5 монографии. 30 марта 2026 года
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов, Юрий Юдахин
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 14. Методы инспекции покрытий поверхностей изделий электронной техники
// Электронные компоненты, № 3/2026
Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов, Юрий Юдахин
Робототехнические комплексы для оптического контроля качества продукции и материалов
// Радиоэлектронные технологии, №3/2026
Юрий Рубцов
Применение метода интеллектуального анализа данных в системе формирования предложений на выбор изделий электронной компонентной базы в процессах разработки радиоэлектронной аппаратуры
//Актуальные вопросы науки, общества и образования: Глава 17 монографии. 04 марта 2026 года
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов, Юрий Юдахин
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 13. Развитие автоматизированных систем оптической инспекции качества покрытия поверхностей изделий
// Электронные компоненты, №2/2026
Юрий Рубцов
Алгоритм машинного обучения сопоставления данных системы формирования оптимальных предложений на выбор изделий электронной компонентной базы в процессах разработки радиоэлектронной аппаратуры
// Научные исследования 2026, сборник статей XX Международной научно-практической конференции. 20 февраля 2026 года
Юрий Рубцов
Алгоритм вероятностного сопоставления данных системы формирования оптимальных предложений на выбор изделий электронной компонентной базы в процессах разработки радиоэлектронной аппаратуры.
// Актуальные научные исследования, сборник статей XXXII Международной научно-практической конференции. 15 февраля 2026 года
Юрий Рубцов
Алгоритм точного сопоставления данных системы формирования оптимальных предложений на выбор изделий электронной компонентной базы в процессах разработки радиоэлектронной аппаратуры.
// Научное обозрение: актуальные вопросы теории и практики, сборник статей XXI Международной научно-практической конференции. 10 февраля 2026 года
Дарья Дормидошина
Искусственный интеллект: от научной фантастики к реальности
// Флагман науки, №1/2026
Дарья Дормидошина
Эволюция искусственного интеллекта: от вычислительных моделей до клинических решений
// Вектор научной мысли, №1/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов.
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 12. Тенденции развития систем освещения в методах автоматизированного оптического обнаружения дефектов изделий электронной техники в 2025 г.
// Электронные компоненты, №1/2026
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Современные методы обработки данных в автоматизированных системах формирования предложений на выбор ЭКБ для применения в РЭА
// Флагман науки, №12/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор, анализ и апробирование методов настройки контраста и освещения в автоматизированных системах обнаружения дефектов изделий электронной техники визуальным методом
// Вектор научной мысли, №12/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 11. Современные тенденции в методах автоматизированного оптического контроля изделий электронной техники
// Электронные компоненты, №12/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов автоматического оптического контроля качества изделий электронной техники
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №4/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 10. Обзор, анализ, разработка и испытание технологии виртуальной реальности в автоматизированных системах обнаружения дефектов изделий электронной техники
// Электронные компоненты, №11/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов управления освещением в автоматическом оптическом контроле качества изделий электронной техники
// Флагман науки, №4/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Технологические тенденции в оптическом обнаружении дефектов радиоэлектронных изделий в 2025 году
// Вектор научной мысли, №11/2025
«Сессия Специальной комиссии Бюро Высшего Совета по опережающему социально-экономическому и научно-технологическому развитию 29 октября 2025 года»
в рамках форума-выставки «Российский промышленник 2025».
Форум-выставка «Российский промышленник 2025» г. Санкт-Петербург
АО «ЦКБ «Дейтон» и МИЭТ стали участниками презентации новейших разработок науки и промышленности.
Международный инженерный форум «Синергия предприятий и вузов – основа подготовки инженеров нового уровня», г. Москва, 2025
Российские инженеры создали роботов, выявляющих дефекты микросхем
АО «ЦКБ «Дейтон», 2025
Специалисты АО «ЦКБ «Дейтон» разработали и запустили в эксплуатацию роботехнические комплексы по обеспечению качества микросварки изделий электронной техники
АО «Элеконд», г. Сарапул, Удмуртская Республика,2025
Кирилл Антонов, Илья Бойков, Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 9. Внедрение АПАК для автоматизации процесса обнаружения дефектов на металлокерамических корпусах типа 4
// Электронные компоненты, №10/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Методы позиционирования камер для обнаружения дефектов изделий электронной техники с помощью искусственного интеллекта
// Вектор научной мысли, №10/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов извлечения изображений дефектов в автоматическом оптическом контроле качества изделий электронной техники
// Флагман науки, №10/2025
Дарья Дормидошина
Роль искусственного интеллекта в цифровой трансформации радиоэлектронной отрасли
// Научные исследования в современном мире. Теория и практика: сборник статей XLVIII международной научной конференции
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Компьютерное зрение в современном производстве: технологии и преимущества
// Перспективные научные исследования: актуальные вопросы, достижения и инновации: сборник статей международной научной конференции, 2025
Коллектив АО «ЦКБ «Дейтон»
К 100-летию со дня рождения Героя Советского Союза Виктора Александровича Малышева
АО ЦКБ Дейтон, 2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Совершенствование процессов выбора электронной компонентной базы через валидацию результатов нормализации данных в процессах разработки радиоэлектронной аппаратуры
// Вектор научной мысли, №9/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов пороговой обработки изображений в автоматическом оптическом контроле качества изделий электронной техники
// Электронные компоненты, №10/2025
Кирилл Антонов, Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Вячеслав Малышев, Артем Назаренко, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 8. Автоматизированный визуальный контроль качества изделий микроэлектроники с использованием метода гомографии
// Электронные компоненты, №9/2025 )
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Вячеслав Малышев, Артем Назаренко, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 7. Новая технология поиска дефектов на основе многоракурсной структуры
// Электронные компоненты, №8/2025
Дарья Дормидошина
Ключевые преимущества компьютерного зрения в промышленности
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, 2025
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов предварительной обработки изображений в автоматическом оптическом контроле качества изделий электронной техники
// Флагман науки, 2025
Дарья Дормидошина
Оптимизация производственных процессов через автоматизированный контроль и технологический менеджмент
// Флагман науки, 2025
Юрий Рубцов
Алгоритм сопоставления для нормализации данных системы формирования оптимальных предложений на выбор изделий электронной компонентной базы в процессах разработки радиоэлектронной аппаратуры
// Автоматизация в промышленности, 2025
Юрий Юдахин д.и.н., профессор, Дарья Канарейкина, Юрий Юдахин
Технология изготовления многовыводных рамок микросхем с применением прецизионной лазерной резки
// Технологии в электронной промышленности, 2025
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов, Вячеслав Малышев, Артем Назаренко
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 6. Поиск дефектов изделий на основе особых точек ORB
// Электронные компоненты, №7/2025
Илья Графов, Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов, Сергей Старостин
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 5. Обнаружение дефектов микросварки в контактах элементов ЭКБ с помощью электромагнитных устройств
// Электронные компоненты, №6/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов, Артем Кузнецов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 4. Проверка качества порошковых материалов и микроструктур поверхностей
// Электронные компоненты, №5/2025
Юрий Рубцов
Оценка метода машинного обучения для системы автоматизированного выбора компонентной базы радиоэлектронной аппаратуры
// Автоматизация и измерения в машино-приборостроении: научный журнал, Севастополь 2025 г.
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Искусственный интеллект в визуальной проверке качества изделий: технологические и экономические аспекты
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, 2025
Дарья Дормидошина
Роль технологического менеджмента в решении задач внедрения систем автоматизированного оптического контроля качества изделий электронной техники
// Вестник Екатерининского института, №1/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 3. Обнаружение дефектов полупроводниковых пластин в поляризованном свете
// Электронные компоненты, №4/2025
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 2. Измерение обнаруженных дефектов в видимом диапазоне
// Электронные компоненты, №3/2025
Дарья Дормидошина
Компьютерное зрение в системах контроля качества продукции и связь с TQM и MES
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, 2025
Вячеслав Малышев, Артем Назаренко, Юрий Рубцов
Определение дефектов на изделиях микроэлектроники в режиме реального времени при помощи сверхточной нейронной сети
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, 2025
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта - Часть 1. Технические средства настройки изображений для обнаружения дефектов в видимом диапазоне
// Электронные компоненты, №2/2025
Александр Медведев, Александр Гринкевич, Дмитрий Соколов, Светлана Князева, Юрий Евстифеев
Вариант построения нового высокоразрешающего микроскопа
//Технологии в электронной промышленности № 2’2024
Юрий Евстифеев
Методы ускоренного анализа многопериодных объектов в САПР
// CONTROL ENGINEERING РОССИЯ, №5-6, 2024
Юрий Рубцов, Вячеслав Малышев, Артем Назаренко
Автоматизированный визуальный контроль качества изделий микроэлектроники методом сравнения шаблонов
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №1/2024
Дарья Дормидошина
Система управления надежностью на стадиях жизненного цикла электронной компонентной базы
//Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №3/2024
Дарья Дормидошина
Технологические изменения в производственной деятельности предприятий как факторы развития технологического менеджмента в решении задач автоматизированного оптического контроля качества изделий электронной техники
// Экономика, предпринимательство и право, №8/2024
Юрий Рубцов, Дарья Дормидошина
Применение моделей электронной компонентной базы
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №2/2024
Юрий Рубцов
Современные тенденции разработки и применения spice моделей для автомобильной техники
// САПР Электроники, №2/2023
Анискин Ю. П.
Цифровой двойник системы управления деловой активностью компании
Национальный исследовательский университет МИЭТ, 2023
Л.Г. Гагарина, Ю.В. Рубцов
Особенности разработки метода классификации плоских QFN-корпусов для применения в составе автоматизированных систем технической подготовки производства изделий микроэлектроники
// Известия высших учебных заведений. Электроника, №3/2022
Дарья Дормидошина
Проблемы информационного обеспечения и управления совместной деятельностью разработчиков и изготовителей наукоемкой продукции на основе сквозных проектов
// Инновации в менеджменте, №1/2022
Юрий Рубцов, Дарья Дормидошина
Применение материалов на стадиях изготовления QFN-корпусов для изделий микроэлектроники
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №7/2022
Дарья Дормидошина
Порядок разработки моделей инновационной электронной компонентной базы, их актуализация и поддержка в течение стадий жизненного цикла
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №6/2022
Буртовой А.Ю.
Исследование и результат сбора, анализа и обобщения информации об обозначениях выводов изделий электронной техники, применяемых при построении условных графических обозначений
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №5/2022
Юрий Рубцов
Актуальные проблемы и перспективы развития корпусов для изделий микроэлектроники
Национальная научно-практическая конференция Цифровые технологии и управление качеством в технических системах, Москва, 2021
Рубцов Ю.В., АО «ЦКБ «Дейтон»; Савин М.Л., ФГУП «МНИИРИП»
Унификация многовыводных рамок и использование международных стандартов для их применения
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №2/2021
Афанасьев А. С., Боков С. И., ФГБУ «46 ЦНИИ» Минобороны России; Рубцов Ю. В., АО «ЦКБ «Дейтон»
О необходимости механизма контроллинга в обеспечении управления информацией по отказам ЭКБ в РЭА широкого применения.
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №1/2021
Сучков К. И., Невский А. А., ФГУП «МНИИРИП»; Рубцов Ю. В., АО «ЦКБ «Дейтон»
Развитие системных мероприятий управления качеством и надёжностью электронной компонентной базы по направлениям сбора, обработки и анализа информации с этапов производства, применения и эксплуатации.
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №1/2021
Д. А. Дормидошина, Ю. В. Рубцов и Савин М.Л.
Применение ICMH в процессах сбора, обработки и анализа информации о надежности изделий микроэлектроники
// Нано- и микросистемная техника, №9/2020
Д. А. Дормидошина, Ю. В. Рубцов и Савин М.Л.
Исследования и результаты сбора, анализа и обобщения информации о выводных рамках, применяемых в изделиях микроэлектроники
// Нано- и микросистемная техника, №7/2020
Н. С. Данилин, Д. М. Димитров, М. Д. Димитров
Современное состояние и перспективы развития технологии малых спутниковых систем и носителей для их вывода на орбиту
(2020, г. Москва «Спектр»)
Л.А. Денисов
// Санитарный врач №8/2018
Рубцова Ю.В. и Алексеева А.В.
«Разработка IBIS-модели микросхем концентраторов сетей, применяемых для проектирования телекоммуникационной аппаратуры.»
// Нано- и микросистемная техника, №19/2017
Ю.В.Рубцов
Оптимизация процессов подбора аналогов изделий электронной компонентной базы
// Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника, № 3/2015
Доклад Смирнова Ю.Н.
«Основные проблемы правильности применения ЭКБ в космических программах и пути их решения. По результатам исследований 2009-2011 годов.»
(2012, г. Москва, Российские космические системы)
Доклад Смирнова Ю.Н.
на ежегодной конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной компонентной базой»
(2012, г. Санкт-Петербург, ежегодная конференция «Сертификация ЭКБ-2012»)
Б.Малашевич.
«Первые отечественные интегральные схемы. 50-летию официальной даты посвящается.»
(2008, Электроника НТБ. Выпуск #5)
Новаченко И.В., Телец В.А.
Справочник: Микросхемы для бытовой радиоаппаратуры. Дополнение третье.
(1991, г. Москва "Радио и Связь")
Бедрековский, М. А., Косырбасов А. А. , П. П. Мальцев
Интегральные микросхемы. Взаимозаменяемость и аналоги - Справочник
(1991, г. Москва "ЭНЕРГОАТОМИЗДАТ")
Сидоров И. Н.
Справочник: Устройства электропитания бытовой РЭА.
(1991, г. Москва "Радио и Связь")
Справочник Новаченко И.В., Юровского А.В.
«Микросхемы для бытовой радиоаппаратуры»
(1990, г. Москва "Радио и Связь")
Якубовский С. В., Ниссельсон Л. И., Кулешова В. И.
Справочник: Цифровые и аналоговые интегральные микросхемы
(1990, г. Москва "Радио и Связь")
Евгений Воробьев, Константин Сенин
Справочник "Интегральные микросхемы производства СССР и их зарубежные аналоги"
(1990, г. Москва "Радио и Связь")
Квасков В.Б.
Алмаз в электронной технике
(1990, г. Москва "ЭНЕРГОАТОМИЗДАТ")
Федорков Б. Г., Телец В. А.
Микросхемы ЦАП и АЦП: функционирование, параметры, применение
(1990, г. Москва "ЭНЕРГОАТОМИЗДАТ")
Варламов Р.Г., Варламов В.Р.
Малогабаритные источники тока
(1988, г. Москва "Радио и Связь")
Шило В.Л.
Популярные цифровые микросхемы
(1987, г. Москва "Радио и Связь")
Хокинс Г.
Цифровая электроника для начинающих.
(1986, г. Москва "Мир")
Якубовский С. В.
Аналоговые и цифровые интегральные микросхемы
(1985, г. Москва "Радио и Связь")
Тарабрин, Б. В.
Интегральные микросхемы - Справочник
(1985, г. Москва "ЭНЕРГОАТОМИЗДАТ")
Сидоров И. Н.
Справочник: Малогабаритные трансформаторы и дроссели.
(1985, г. Москва "Радио и Связь")
Бородин Б. А.
Справочник: Мощные полупроводниковые приборы. Диоды.
(1985, г. Москва "Радио и Связь")
Бородин Б. А.
Справочник: Мощные полупроводниковые приборы. Транзисторы.
(1985, г. Москва "Радио и Связь")
Дэвид Л. Хейзерман
ПРИМЕНЕНИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
(1984, г. Москва "Мир")
Справочник Ю. М. Кутыркина, А. В. Нефедова, А. М. Савченко
"Зарубежные интегральные микросхемы широкого применения"
(1984, г. Москва "ЭНЕРГОАТОМИЗДАТ")
Бирюков С.А
Цифровые устройства на интегральных микросхемах
(1984, г. Москва "Радио и Связь")
Горошков Б. И.
Справочник: Радиоэлектронные устройства.
(1984, г. Москва "Радио и Связь")
Иванов В.И., Аксенов А.И., Юшин А.М.
Полупроводниковые оптоэлектронные приборы - Справочник.
(1984, г. Москва "Энергоиздат")
Бочаров Л.Н.
Полевые транзисторы
(1984, г. Москва "Радио и Связь")
Варламов Р. Г., Варламов В. Р., Егоров С. Ф. и др.
Условные обозначения в описаниях зарубежной бытовой РЭА
(1984, г. Москва "ЛЕГПРОМБЫТИЗДАТ")
Батушев В. А.
Микросхемы и их применение
(1983, г. Москва "Радио и Связь")
Агаханян Т. М.
Интегральные микросхемы
(1983, г. Москва "ЭНЕРГОАТОМИЗДАТ")
Найденов А. И.
Электронно-лучевые осциллографы.
(1983, г. Москва "ЭНЕРГОАТОМИЗДАТ")
Горфинкель, Б.И.; Абалдуев, Б.В.; Медведев, Р.С. и др.
Низковольтные катодолюминесцентные индикаторы.
(1983, г. Москва "Радио и Связь")
Дж. Б. Данс
Операционные усилители принцип работы и применение
(1982, г. Москва "ЭНЕРГОАТОМИЗДАТ")
Баюков А.В.
Справочник: Полупроводниковые приборы. Диоды, транзисторы, оптоэлектронные приборы.
(1982, г. Москва "Энергоиздат")
Бережнева К. М.
Справочник: Транзисторы для аппаратуры широкого применения.
(1981, г. Москва "Радио и Связь")
Кудряшов Б. П., Назаров Ю. В.
Аналоговые интегральные микросхемы: Справочник
(1981, г. Москва "Радио и Связь")
Назаров С.В.
Транзисторные стабилизаторы напряжения.
(1980, г. Москва "Энергия")
Чернышев А.А., Иванов В.И.
Транзисторы
(1980, г. Москва "Энергия")
Назаров С.В.
Транзисторные стабилизаторы напряжения.
(1978, г. Москва "Энергия")
Б.Л. Перельман, К.М. Брежнева.
Высокочастотные транзисторы и их применение.
(1977, г. Москва "Энергия")
Зайцев Ю. В.
Полупроводниковые резисторы.
(1971, г. Москва "Знание")
Соболевский А.Г.
Материалы в радиоэлектронике
(1963, г. Москва "Госэнергоиздат")
Книга: «ЦКБ «Дейтон». 30 лет»
( 1998, г. Зеленоград)
