Роботизированные комплексы визуального контроля поверхностей изделий электронной техники и материалов к ним
Специалисты АО «ЦКБ «Дейтон» разрабатывают и изготавливают робототехнические комплексы по контролю качества продукции (изделий и материалов), использующие: компьютерное зрение, машинное обучение, нейронные сети, мехатронные системы манипулирования изделиями и датчиками контроля.
Разрабатываемые в АО «ЦКБ «Дейтон» робототехнические комплексы позволяют выявлять элементы изделий и получать свойства материалов, не отвечающие установленным требованиям, протоколировать процессы проверки и получать сводную информацию по обнаруженным бракам и дефектам, рассчитывать выход годных, проводить анализ роста или снижения качества изготавливаемых изделий, помогать выстраивать технологические процессы, обеспечивающие требуемое качество изделий.
Обнаружение бракованных и дефектных изделий (элементов), не соответствующих установленным требованиям, выполняется с помощью:
- камер, электронных микроскопов, в составе робототехнических комплексов. Проведенные исследования проблем обеспечения качества показали необходимость проводить автоматизированную или автоматическую визуальную инспекцию по обнаружению браков и дефектов на поверхностях изделий и материалов, а также обеспечивать их предотвращение на этапах межоперационного и выходного контроля. Используемые на предприятиях в этих процессах возможности человеческого зрения ограничены из-за малой разрешающей способности и контрастной чувствительности зрения в микрометрическом диапазоне размеров браков и дефектов. Робототехнический комплекс на предприятии нацелен на решение вышеперечисленных проблем и выполняет контроль качества изделий и материалов в движении по заданному маршруту с помощью камер, электронных микроскопов, вмонтированных в манипулятор, работающий синхронно с устройством отбора бракованных изделий и классификации дефектов. Является методом неразрушающего контроля;
- датчиков электромагнитного излучения, в составе робототехнических комплексов. Проведенные исследования проблем обеспечения качества микросварки показали необходимость измерения электромагнитных излучений в процессах микросварки и оценки их параметром для прогнозирования качества сварки и отбора элементов изделий с вероятными дефектами сварки. Результаты контроля (протоколы) микросварки позволяют доводить технологические процессы до уровня минимизации браков, возникающих при микросварке, элементов изделий. Робототехнические комплексы с датчиками электромагнитных излучений позволяют контролировать не только качество сварки, но и информировать о необходимости проведения регламентных работ на сварочных аппаратах, информировать о запасе ресурсов (износе) комплектующих частей аппаратов микросварки.
Полученная информация от датчиков обрабатывается с помощью технологий искусственного интеллекта и позволяет сформировать протоколы обнаружения браков и дефектом по конкретному изделию, группе изделий, технологическому процессу (ответственному исполнителю), временному периоду.
Идентификация изделий, партий изделий проводится с помощью привязки по QR-кодам, штрих-кодам, ручного ввода номеров, используемых в системах документооборота предприятия.
В процессе внедрения робототехнических комплексов проводится машинное обучение, прописываются образы дефектов как в графическом виде, так и описательно, используются различные модели изделий электронной техники и элементов к ним такие как STEP, SPICE, IBIS.
Робототехнические комплексы имеют несколько вариантов конфигурации, каждый из которых включает датчики с необходимыми свойствами (разрешение, отношение сигнал-шум и пр.). Заказчику предоставлена возможность определить (согласовать) конфигурацию робототехнического комплекса на основе требований к определению дефектов конкретного изделия (элемента, материала) и позиции робототехнического комплекса в технологическом процессе.
Компьютерные программы робототехнического комплекса содержат модули, построенные на запатентованных, ранее разработанных в АО «ЦКБ «Дейтон» программных средствах и библиотеках с моделями изделий. Имеется возможность проводить постоянное машинное обучение систем робототехнического комплекса с учетом расширения номенклатуры изделий, изменения требований к их качеству силами специалистов предприятия (интерфейс машинного обучения позволяет выполнять такую функцию).
Робототехнический комплекс автоматизирует процессы контроля качества изделий (элементов, материалов), снижает нагрузку на работников, исключает использование в процессе поиска дефектов человеческого зрения, зависящее в том числе и от состояния человека, ограничения разрешающей способности и контрастной чувствительности зрения человека, создает условия для разработки более совершенных изделий электронной техники и радиоэлектронной аппаратуры.
Объем, время и стоимость работ по разработке, изготовлению, установке и обучению работе с робототехническими комплексами определяется в процессе формирования технического задания.
Информация о разработках, видеосъёмка работы и результаты, описанные в научных публикациях представлены на странице сайта ниже.
Видео по теме:
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Публикации по теме:
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Результаты исследований, разработки и запуска систем автоматизированной оптической инспекции изделий электронной техники
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №3/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 19. Применение метода магнитной индукции для автоматизированной инспекции качества покрытий изделий электронной техники
// Электронные компоненты, №9/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 18. Организационная система автоматизированной инспекции качества покрытий изделий электронной техники золотом и никелем методом рентгенофлуоресцентного анализа
// Электронные компоненты, №8/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Савелий Кондауров, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 17. Программное обеспечение для устранения смещений позиционирования ИЭТ на производствах конвейерного типа с оптической инспекцией качества изделий
// Электронные компоненты, №7/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 16. Алгоритм обнаружения дефектов на печатных платах
// Электронные компоненты, №6/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 15. Автоматизация оптической инспекции печатных плат
// Электронные компоненты, №5/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Вячеслав Малышев, Юрий Рубцов
Визуальный поиск дефектов после герметизации микросхем в пластиковый корпус
// Технологии в электронной промышленности, № 2/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Илья Бойков, Юрий Рубцов
Формирование графического руководства оператора на этапе внедрения АПАК
// Технологии в электронной промышленности, № 3/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Константин Иванов, Юрий Рубцов
Алгоритмы контрастного автофокуса для поиска дефектов в АПАК
// Технологии в электронной промышленности, № 2/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов, Юрий Юдахин
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 14. Методы инспекции покрытий поверхностей изделий электронной техники
// Электронные компоненты, № 3/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов, Юрий Юдахин
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 13. Развитие автоматизированных систем оптической инспекции качества покрытия поверхностей изделий
// Электронные компоненты, № 2/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 12. Тенденции развития систем освещения в методах автоматизированного оптического обнаружения дефектов изделий электронной техники
// Электронные компоненты, № 3/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор, анализ и апробирование методов настройки контраста и освещения в автоматизированных системах обнаружения дефектов изделий электронной техники визуальным методом
// Вектор научной мысли, №12/2026
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 11. Современные тенденции в методах автоматизированного оптического контроля изделий электронной техники
// Электронные компоненты, № 12/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов автоматического оптического контроля качества изделий электронной техники
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №4/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 10. Обзор, анализ, разработка и испытание технологии виртуальной реальности в автоматизированных системах обнаружения дефектов изделий электронной техники
// Электронные компоненты, №11/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов управления освещением в автоматическом оптическом контроле качества изделий электронной техники
// Флагман науки, №11/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Технологические тенденции в оптическом обнаружении дефектов радиоэлектронных изделий в 2025 году
// Вектор научной мысли, №11/2025
-
Кирилл Антонов, Илья Бойков, Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Валерий Ключников, Евгений Ключников, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 9. Внедрение АПАК для автоматизации процесса обнаружения дефектов на металлокерамических корпусах типа 4
// Электронные компоненты, №10/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Методы позиционирования камер для обнаружения дефектов изделий электронной техники с помощью искусственного интеллекта
// Вектор научной мысли, №10/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов извлечения изображений дефектов в автоматическом оптическом контроле качества изделий электронной техники
// Флагман науки, №10/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов пороговой обработки изображений в автоматическом оптическом контроле качества изделий электронной техники
// Флагман науки, 2025
- Кирилл Антонов, Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов., Вячеслав Малышев, Артем Назаренко
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 8. Автоматизированный визуальный контроль качества изделий микроэлектроники с использованием метода гомографии
// Электронные компоненты, №9/2025
- Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов., Вячеслав Малышев, Артем Назаренко Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 7. Новая технология поиска дефектов на основе многоракурсной структуры
// Электронные компоненты, №8/2025
- Дарья Дормидошина
Ключевые преимущества компьютерного зрения в промышленности
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №3/2025
- Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Обзор и анализ методов предварительной обработки изображений в автоматическом оптическом контроле качества изделий электронной техники
// Флагман науки, №8/2025
- Юрий Юдахин,д. и. н.,профессор, Дарья Канарейкина, Юрий Юдахин
Технология изготовления многовыводных рамок микросхем с применением прецизионной лазерной резки
// Технологии в электронной промышленности, №3/2025
- Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов., Вячеслав Малышев, Артем Назаренко Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 6. Поиск дефектов изделий на основе особых точек ORB
// Электронные компоненты, №7/2025
- Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов., Илья Графов, Сергей Старостин
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 5. Обнаружение дефектов микросварки в контактах элементов ЭКБ с помощью электромагнитных устройств
// Электронные компоненты, №6/2025
- Юрий Рубцов, Юрий Евстифеев, Дарья Дормидошина, Артем Кузнецов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 4. Проверка качества порошковых материалов и микроструктур поверхностей
// Электронные компоненты, №5/2025
- Юрий Рубцов, Вячеслав Малышев, Артем Назаренко
Автоматизированный визуальный контроль качества изделий микроэлектроники методом сравнения шаблонов
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №1/2024
-
Дарья Дормидошина, Юрий Рубцов
Искусственный интеллект в визуальной проверке качества изделий: технологические и экономические аспекты
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №2/2025
-
Дарья Дормидошина
Роль технологического менеджмента в решении задач внедрения систем автоматизированного оптического контроля качества изделий электронной техники
// Вестник Екатерининского института, №1/2025
-
ДДарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 3. Обнаружение дефектов полупроводниковых пластин в поляризованном свете
// Электронные компоненты, №4/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 2. Измерение обнаруженных дефектов в видимом диапазоне
// Электронные компоненты, №3/2025
-
Дарья Дормидошина
Компьютерное зрение в системах контроля качества продукции и связь с TQM и MES
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №1/2025
-
Юрий Рубцов., Вячеслав Малышев, Артем Назаренко
Определение дефектов на изделиях микроэлектроники в режиме реального времени при помощи сверхточной нейронной сети
// Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения, №1/2025
-
Дарья Дормидошина, Юрий Евстифеев, Юрий Рубцов
Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 1. Технические средства настройки изображений для обнаружения дефектов в видимом диапазоне
// Электронные компоненты, №2/2025
-
Андрей Коршунов
Брак по расчетам: проверку микроэлектроники поручили роботу-инспектору с ИИ
// Газета Известия, 7.05.2025
Документы Роспатента:
1. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа бинарной установки экстремума резкости с дроблением интервала для применения в системах оптической инспекции изделий электронной техники"
|
2. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа формирования базы данных об изделиях электронной техники"
|
|
3. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа визуализации базы данных об изделиях электронной техники"
|
4. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа корректировки изображения для системы оценки контроля качества изделий электронной техники на базе компьютерного зрения"
|
|
5. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа измерения микродефектов для системы оценки контроля качества изделий электронной техники с использованием технологий компьютерного зрения"
|
6. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа управления данными об изделиях электронной техники"
|
|
7. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа управления манипуляторами для системы контроля качества изделий электронной техники с использованием технологий компьютерного зрения"
|
8. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа сбора, обобщения и анализа информации о результатах качества микросварки элементов изделий электронной техники"
|
|
9. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа автоматического измерения геометрических параметров элементов на изображениях поверхностей изделий с целью обнаружения дефектов"
|
10. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа классификации информации о поверхностных дефектах корпусов изделий электронной техники в системе автоматизированного контроля качества"
|
|
11. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа выбора и отображения информации о поверхностных дефектах изделий электронной техники"
|
12. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа позиционирования объектов в автоматизированной оптической инспекции качества изделий электронной техники"
|
|
13. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ "Программа управления манипуляторами системы автоматизированной оптической инспекции корпусов для микросхем конвейерного типа"
|
