Обсуждались вопросы нормативно-технического обеспечения унификации и стандартизации выводных рамок, представлены результаты сбора, обобщения и анализа информации по выводным рамкам (Каталог выводных рамок для микросхем интегральных и приборов полупроводниковых).
